阻生下颌第三磨牙(IMTMs)是指下颌的第三磨牙与邻近的解剖结构(如下颌管或第二磨牙)紧密接触或施加压力。IMTM的患病率在不同人群中有所不同，从9.5%到68%不等。拔牙是口腔诊所中最常见的手术。下颌阻生智齿的拔除是一项困难的手术，特别是对于复杂的低阻生智齿，而下颌阻生智齿的拔除往往会导致邻近牙齿松动或损伤、牙槽干燥和牙根断裂等并发症。拔牙过程中另一个关键问题是下牙槽神经(IAN)的潜在风险，因为它靠近下牙槽神经(IAN)。神经损伤的发生率据报道为0.5%-8%，因此了解下颌管附近IMTM的位置是非常重要的。

在临床实践中，在移除IMTM之前，通常使用表面断层扫描来了解IMTM相对于下颌管的位置。然而，表面层析成像生成的二维图像对于确定两者之间的密切接触可能是不准确的。额外的X光只能对牙齿进行二维成像，而不是三维成像。这导致对牙根和下颌管位置的评估不准确，进而严重影响外科医生的手术判断，给患者带来更多的并发症和疼痛。

随着成像技术的革新，锥束计算机断层扫描技术(CBCT)得到了发展。该技术依靠CB体积成像技术观察口腔内病变部位，并利用CT诊断疾病。它的定位精度比传统的X射线诊断方法更高，图像更清晰。此外，扫描的病变部位可以呈现为三维图像，与传统的二维图像相比，具有较低的口腔结构重叠风险和较高的疾病检出率。在种植学、牙髓学、正畸学、口腔颌面外科等方面的应用已有报道。当需要对受影响的下颌TM及其邻近解剖结构(如IAN管和舌皮质)进行三维视图时，CBCT被特别推荐作为首选方法。

现有文献广泛研究了下颌阻生第三磨牙(ITM)与下颌管的关系，强调了术前准确评估对预防神经损伤的重要性。然而，仍有必要进一步研究IMTM，以全面了解其独特的特征和与下颌管相关的空间定位。为了扩大本研究课题的样本量，本研究通过CBCT观察101例与下颌骨管密切接触的中颞下颌支瘤的影像学数据，动态分析中颞下颌支瘤在中颞下颌支瘤区域的位置，为中颞下颌支瘤的拔除提供额外的临床参考。

方法：选取101例符合诊断标准的IMTMs患者142颗牙(IMTMs与下颌管间无骨壁显像区、仅有高密度骨皮质显像区或有≦1 mm的骨显像区)。旋转CBCT阳极的参数设置为:110 kV, 40-50 mA;焦点和曝光场分别设置为0.3 MMH和高分辨率变焦;设置曝光时间为5.4 s，图像层厚度为0.25 mm。进行三维重建，从冠状面、水平面和矢状面连续观察下颌管通过IMTM区的位置。

图1:在研究数据重建过程中，对参考面(A)和中矢状面(B)进行了微调。

图2:下颌骨管(黄色)从牙根下穿过。“B”代表颊侧，“L”代表舌侧

图3:下颌骨管(黄色)从根尖区颊侧进入，在冠下离开。“B”代表颊侧，“L”代表舌侧

图4:下颌骨管(黄色)从根尖区舌侧进入，在冠下离开。“B”代表颊侧，“L”代表舌侧。白色的圆圈代表下颌管

图5:下颌骨管(黄色)从根尖区沿颊部通过。“B”代表颊侧，“L”代表舌侧

图6 牙根进入下颌管(黄色)

图7:下颌管与下颌阻塞第三磨牙的紧密接触部位。“B”代表颊侧，“L”代表舌侧。从示意图上，我们可以观察到下颌神经管(黄色)与下颌第三磨牙(蓝色)的关系，它从后向前(a→e)移动。

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